光斑分析儀
光斑分析儀（Beam Profiler）是一種用于測(cè)量激光或其他光源光強(qiáng)空間分布的精密光學(xué)儀器，能夠?qū)崟r(shí)檢測(cè)光束的尺寸、形狀、能量分布、發(fā)散角以及M2因子等關(guān)鍵參數(shù)。其核心原理是通過(guò)CCD/CMOS相機(jī)、掃描狹縫或刀口法等探測(cè)器記錄光束橫截面的強(qiáng)度信息，并結(jié)合軟件分析獲得光斑的二維或三維能量分布圖。光斑分析儀廣泛應(yīng)用于激光加工、光纖通信、光學(xué)系統(tǒng)調(diào)試、激光器性能測(cè)試以及光束質(zhì)量控制等領(lǐng)域，是評(píng)估和優(yōu)化激光光束特性的重要工具。光斑分析儀產(chǎn)品型號(hào)說(shuō)明：PhaseInsight代表產(chǎn)品系列品牌名稱，BA代表光斑分析儀，BA后方的數(shù)字代表像素量。